[发明专利]半导体装置在审

专利信息
申请号: 202011484111.6 申请日: 2020-12-16
公开(公告)号: CN112992929A 公开(公告)日: 2021-06-18
发明(设计)人: 珍·琼格曼;布莱恩·阿斯匹灵 申请(专利权)人: 弗莱克英纳宝有限公司
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;G02F1/1368
代理公司: 北京泰吉知识产权代理有限公司 11355 代理人: 史瞳;顾以中
地址: 英国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种方法,包括:在支撑衬底上原位形成:第一金属层;在所述第一金属层之后的光吸收层;在所述光吸收层之后的导体图案;以及在所述导体图案之后的半导体层;使用抗蚀剂掩模图案化所述半导体层以形成半导体图案,所述半导体图案限定一个或多个半导体装置的一个或多个半导体沟道;以及使用所述抗蚀剂掩模和所述导体图案图案化所述光吸收层,以便在由至少一个所述抗蚀剂掩模和所述导体图案中占据的区域中选择性地保留所述光吸收层。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
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