[发明专利]测试装置的性能测试方法、系统、设备及介质有效
| 申请号： | 202011489474.9 | 申请日： | 2020-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN112731238B | 公开（公告）日： | 2023-06-06 |
| 发明（设计）人： | 郭瑞亮;朱军;敖文扬 | 申请（专利权）人： | 苏州通富超威半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 北京志霖恒远知识产权代理有限公司 11435 | 代理人： | 郭栋梁 |
| 地址： | 215000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种测试装置的性能测试方法、系统、设备及介质，其中，测试装置的性能测试方法包括：提供一加热模块，所述加热模块的输入功率可调；提供一测试装置，用于对所述加热模块维持热平衡；预设加热模块的输入功率、测试时间、初始温度及温度阈值；将所述测试装置与所述加热模块连接，对所述加热模块加热到初始温度，调节输入功率并维持测试时间；获取所述测试装置与所述加热模块接触位置的实时温度；判断在所述测试时间内，所述实时温度是否均超过温度阈值；若否，则增大所述加热模块的输入功率并维持所述测试时间，并在所述测试时间内继续获取所述实时温度；若是，则输出热平衡性能评估结果并结束流程。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 性能 方法 系统 设备 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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