[发明专利]测试系统、测试方法及计算机可读存储介质在审
申请号: | 202011494506.4 | 申请日: | 2020-12-17 |
公开(公告)号: | CN112240944A | 公开(公告)日: | 2021-01-19 |
发明(设计)人: | 衣存宇;洪申平;沙宏磊;沈虹;韩景超;刘万虎;李凯;魏靖;董丽佳 | 申请(专利权)人: | 天津飞旋科技有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R1/067;G01R31/28;G01M13/04 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 安卫静 |
地址: | 300457 天津市滨*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明提供了一种测试系统、测试方法及计算机可读存储介质,包括:测试夹具、探针测试基板、测试系统主板和上位机;测试夹具和探针测试基板用于连接被测试主控制板;上位机用于向测试系统主板下发测试指令;探针测试基板用于在上位机发送测试指令后采集被测试主控制板产生的测试信号;测试系统主板用于获取探针测试基板采集的测试信号,并对测试信号进行处理后将测试结果上传至上位机;上位机还用于显示测试结果。本发明能够通过测试系统自动进行产品测试,提高测试效率,减少人工成本,同时可以提高测试结果的统一性和稳定性,降低人工测试产生的不确定性。 | ||
搜索关键词: | 测试 系统 方法 计算机 可读 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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