[发明专利]一种超导纳米线单光子探测器电热过程仿真方法有效

专利信息
申请号: 202011495112.0 申请日: 2020-12-17
公开(公告)号: CN112651111B 公开(公告)日: 2022-09-09
发明(设计)人: 郭江华;聂矗;张恒彬;田侑成;龙林鑫 申请(专利权)人: 武汉大学
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G01J11/00
代理公司: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 代理人: 刘琰
地址: 430072 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种超导纳米线单光子探测器电热过程仿真方法,包括如下步骤:步骤1:超导纳米单光子热模型构建,步骤2:超导纳米单光子电模型构建,步骤3:超导纳米单光子的电热仿真,步骤4:超导纳米单光子的热模型方程求解,步骤5:超导纳米单光子的电模型方程求解,步骤6:基本条件的确定,步骤7:分析电路元件参数对响应时间的影响。本发明通过对超导纳米单光子热模型和电模型的综合探索,积极有效的构建简约型的热电微分方程,不仅求解方式简单,而且整体构建逻辑清除,方便理解和验证,大大的缩短了操作时间,并且在后期方便对响应时间进行较为精确的检测。
搜索关键词: 一种 导纳 米线 光子 探测器 电热 过程 仿真 方法
【主权项】:
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