[发明专利]工业X射线系统成像方法和装置在审

专利信息
申请号: 202011495873.6 申请日: 2020-12-17
公开(公告)号: CN112649452A 公开(公告)日: 2021-04-13
发明(设计)人: 丁赛赛;王康;左文琪 申请(专利权)人: 苏州斯玛维科技有限公司
主分类号: G01N23/046 分类号: G01N23/046
代理公司: 苏州隆恒知识产权代理事务所(普通合伙) 32366 代理人: 金京
地址: 215000 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 本申请公开了一种工业X射线系统成像方法和装置,涉及X射线系统成像技术领域,所述方法包括:加载工业X射线成像系统的物理参数和扫描参数;形成的精确光学路径,并计算给定角度下,射线源的边界与所有探测器单元边界的所处的射线方程;计算X射线光源与所有探测器单元在精确光学路径下与所有像素的相交体积权重,并用单位像素体积对相交权重做归一化处理,得到给定扫描位置所有像素的归一化权重函数;对原始扫描数据进行预校正处理;对预校正后的投影数据按水平通道方向进行卷积滤波处理,得到滤波后的投影数据;对滤波后的投影数据进行逐视角加权反投影操作,实现对被扫描物体的精确重建。解决了现有技术中重建图像的空间分辨率较差的问题。
搜索关键词: 工业 射线 系统 成像 方法 装置
【主权项】:
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