[发明专利]一种集成电路交替式验证方法及系统有效
| 申请号： | 202011498790.2 | 申请日： | 2020-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN112507641B | 公开（公告）日： | 2022-07-05 |
| 发明（设计）人： | 陈岚;张金华;张义恒;冯新华 | 申请（专利权）人： | 中科芯云微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/30 | 分类号： | G06F30/30;G06F119/02 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 李晓光 |
| 地址： | 266101 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种集成电路交替式验证方法及系统，该集成电路交替式验证系统，通过使用多种验证工具并灵活配置交替验证，可尽可能多的发现问题，并且通过结果预判模块，还可以尽可能早的定位问题所在，能及时、精确、穷尽的验证集成电路设计中存在的问题，提高了验证的覆盖率，为集成电路的设计提供可靠依据。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 交替 验证 方法 系统 | ||
【主权项】：
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