[发明专利]芯片系统级测试方法、装置及系统有效
| 申请号： | 202011499323.1 | 申请日： | 2020-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN112612661B | 公开（公告）日： | 2022-08-23 |
| 发明（设计）人： | 马越;桂晓峰;李育飞;徐宏思 | 申请（专利权）人： | 海光信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06K9/62;G06F21/60 |
| 代理公司： | 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 | 代理人： | 张仲波 |
| 地址： | 300000 天津市滨海新区天津华苑*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明公开的芯片系统级测试方法、装置及系统，属于芯片测试技术领域。其中所述测试方法包括：当测试服务器接收到用户提交的芯片的测试需求信息时，根据所述测试需求信息进行测试初始化；给测试主机上的放置有待测芯片的测试主板上电，并接收所述测试主机返回的芯片信息；根据所述芯片信息从数据库中下载与其对应的之前站别的测试结果数据，根据所述测试需求信息和所述测试结果数据生成定制化的芯片参数，发送给测试主机写入到待测芯片中；当所述测试服务器接收到所述测试主机反馈的测试结果数据时，将所述测试结果数据上传至数据库中，根据所述测试结果数据和预设分类规则对待测芯片进行分类。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 系统 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
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