[发明专利]一种芯片测试方法及装置在审
| 申请号： | 202011508032.4 | 申请日： | 2020-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN112684321A | 公开（公告）日： | 2021-04-20 |
| 发明（设计）人： | 金罗军;吴臻志 | 申请（专利权）人： | 无锡灵汐类脑科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京麦宝利知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11733 | 代理人： | 赵艳红 |
| 地址： | 214000 江苏省无锡市新吴区净慧东道*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片测试方法及装置。所述芯片测试方法，包括：通过芯片自带的处理功能对待测样本进行处理，得到处理后的结果样本；将所述芯片中预设的预期结果样本和所述结果样本进行对比；根据对比的结果，分析出所述处理功能的测试结果。本发明在没有处理功能对应的引脚的情况下，快速便捷的测试该芯片自带的各个处理功能，并可根据测试结果直接定位出现故障的处理功能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
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