[发明专利]超高检测方法、装置、电子设备和存储介质在审
| 申请号： | 202011511169.5 | 申请日： | 2020-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN112581449A | 公开（公告）日： | 2021-03-30 |
| 发明（设计）人： | 陈海波;许皓 | 申请（专利权）人： | 深兰科技（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/70 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 程琛 |
| 地址： | 200336 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请实施例涉及图像处理技术领域，提供了一种超高检测方法、装置、电子设备和存储介质，方法包括：对待检测图像进行目标检测；若检测到目标，则获取目标的目标检测框；基于目标检测框与两条超高检测线段之间的相对位置，判断目标是否进入到超高检测区域内；其中，两条超高检测线段对应不同的超高检测平面，且两条超高检测线段首尾相连；若目标进入到超高检测区域内，且目标检测框的质心位于两条超高检测线段三个端点构成的三角区域外，则目标超高。本申请提供的超高检测方法、装置、电子设备和存储介质，实现了两个超高检测平面下的超高检测，提高了超高检测的全面性，并且该方法的条件限制少，扩大了超高检测方法的可适用范围。 | ||
| 搜索关键词： | 超高 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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