[发明专利]芯片及其开发工具的测试系统、测试方法及装置有效
| 申请号： | 202011511928.8 | 申请日： | 2020-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN112799888B | 公开（公告）日： | 2022-04-01 |
| 发明（设计）人： | 孙莉莉;张览;赵方亮;任程程;赵井坤 | 申请（专利权）人： | 广东高云半导体科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/26 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 肖璐 |
| 地址： | 510700 广东省广*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种芯片及其开发工具的测试系统、测试方法及装置。该系统包括：功能配置模块，用于配置待测对象的配置信息，配置信息至少包括：测试用例类型，待测对象为芯片或芯片的开发工具；用例筛选模块，用于根据测试用例类型筛选与待测对象对应的测试用例；流程处理模块，用于生成测试流程信息，测试流程信息至少包括测试流程和测试流程属性，测试流程属性用于表示是否执行测试流程中的任意一个主流程或任意一个子流程；自动化检测模块，用于使用筛选的测试用例按照测试流程对待测对象进行测试，根据测试流程属性对待测对象进行自动化测试。本发明解决了现有技术中对于FPGA芯片及其开发工具的测试效率较低的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 及其 开发 工具 测试 系统 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广东高云半导体科技股份有限公司，未经广东高云半导体科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011511928.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
