[发明专利]集成电路设计的验证方法、验证装置以及存储介质有效
| 申请号： | 202011514297.5 | 申请日： | 2020-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN112597718B | 公开（公告）日： | 2023-10-03 |
| 发明（设计）人： | 张剑峰;王斌;鄢传钦 | 申请（专利权）人： | 海光信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/33 | 分类号： | G06F30/33 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 彭久云;王薇 |
| 地址： | 300392 天津市华苑产业区*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种集成电路设计的验证方法、验证装置及存储介质。该验证方法包括根据使用测试用例组对该集成电路设计进行仿真得到的功能覆盖率报告确定该测试用例组中的重复测试用例。该集成电路设计的预期功能对应多个功能覆盖单元，该测试用例组包括多个测试用例，该多个测试用例的每个覆盖该多个功能覆盖单元中的至少一个，该重复测试用例所覆盖的功能覆盖单元被其它测试用例完全覆盖。该验证方法可以有效提高验证效率。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路设计 验证 方法 装置 以及 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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