[发明专利]芯片CP测试中DELP系列探针台驱动配置方法在审
| 申请号： | 202011515315.1 | 申请日： | 2020-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN112666448A | 公开（公告）日： | 2021-04-16 |
| 发明（设计）人： | 王锐;娄建和;吴彩平 | 申请（专利权）人： | 江苏艾科半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 南京申云知识产权代理事务所(普通合伙) 32274 | 代理人： | 田沛沛;邱兴天 |
| 地址： | 212000 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种芯片CP测试中DELP系列探针台驱动配置方法，包括归类针卡分布图，为每一类分布图配置对应的驱动程序；根据归类情形制作包含所有驱动程序的列表和批处理文件；执行批处理文件，选择驱动程序编号，批处理程序则自动向测试机主机操作系统注册所用的探针台驱动；空跑CP测试，得到探针台晶芯坐标和测试机晶芯坐标，进行坐标比对，确认无误后，进行晶圆CP量产测试。采用本发明的驱动配置方法，可保证CP测试坐标完全匹配、测试机台从探针台可获取正确的晶圆位置坐标，进而可以正常进行芯片晶圆的CP测试；采用一个批处理即可处理9类驱动注册的方式，简化了操作人员的操作，且节省测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 cp 测试 delp 系列 探针 驱动 配置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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