[发明专利]一种运算性能测试方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202011516181.5 | 申请日： | 2020-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN112486792A | 公开（公告）日： | 2021-03-12 |
| 发明（设计）人： | 闫亚闯 | 申请（专利权）人： | 北京安兔兔科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/34 | 分类号： | G06F11/34 |
| 代理公司： | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人： | 丁芸;赵元 |
| 地址： | 100041 北京市石景山区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供了一种运算性能测试方法、装置、电子设备及存储介质，通过生成随机数，对所生成的随机数进行判断，如果所生成的随机数为合数，则对该随机数进行分解处理，统计预设时长内完成分解处理的合数数量，基于该合数数量，确定运算性能测试结果。整数主要分为合数和质数，任何一个合数都可以被分解为多个质数的乘积，经过对随机生成的合数进行分解处理，并统计预设时长内完成分解处理的合数数量，能够测试出电子设备对合数进行分解处理的能力，即一段时长内能够对多少个合数完成分解处理，从而实现了对电子设备在整数运算方面的性能测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 运算 性能 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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