[发明专利]一种抗振型面阵扫频测量装置和方法在审
| 申请号： | 202011517728.3 | 申请日： | 2020-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN112684461A | 公开（公告）日： | 2021-04-20 |
| 发明（设计）人： | 于龙;殷晓君;雷力;谢谊;李志标 | 申请（专利权）人： | 武汉光目科技有限公司 |
| 主分类号： | G01S17/08 | 分类号： | G01S17/08;G01S7/481;G01B11/06 |
| 代理公司： | 武汉华之喻知识产权代理有限公司 42267 | 代理人： | 李君;李欢 |
| 地址： | 430075 湖北省武汉市东湖高新*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种抗振型面阵扫频测量装置和方法，属于激光测距技术领域，装置包括可调谐激光器、准直器、扩束器、分束器、反射元件、镜头、相机和采集控制单元；可调谐激光器用于通过发送触发信号控制相机采集干涉图像，并提供原始光束；分束器用于将原始光束反射至反射元件；反射元件用于按一定比例反射原始光束，形成参考光，且用于透射最后剩余原始光束至被测物体；被测物体用于反射最后剩余原始光束，形成信号光；镜头用于使干涉图像成像于相机上；采集控制单元用于根据干涉图像，分析被测物体的表面形貌；信号光与参考光干涉形成干涉图像。本发明提升了面阵扫频测量装置的抗振效果，进而实现测量准确度的提升。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 抗振型面阵扫频 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
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