[发明专利]集成电路多情景时序收敛分析方法、装置、介质及设备在审

专利信息
申请号: 202011517813.X 申请日: 2020-12-21
公开(公告)号: CN112597725A 公开(公告)日: 2021-04-02
发明(设计)人: 葛颖峰;李孙华;徐祎喆;朱勇 申请(专利权)人: 北京百瑞互联技术有限公司
主分类号: G06F30/3315 分类号: G06F30/3315;G06F119/12
代理公司: 北京国科程知识产权代理事务所(普通合伙) 11862 代理人: 曹晓斐
地址: 100085 北京市海淀区上地信息路2号(北京实创*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种集成电路多情景时序收敛分析方法、装置、存储介质及设备,属于集成电路设计技术领域。该方法包括:利用集成电路的至少一种工作情景的提纲报告以及细节报告,并根据至少一种工作情景的提纲报告对集成电路设计的收敛情况进行分析判断;根据收敛情况的分析判断结果对至少一种工作情景的细节报告进行分析得到集成电路的修复意见;根据修复意见对集成电路进行修复;其中提纲报告包括产生时序违例的时序路径的相关信息。本发明的应用根据提纲报告以及细节报告对至少一种工作情景下的集成电路进行分析,根据分析结果给出修复意见,并对集成电路进行修复,在不依赖EDA工具的摘要报告的前提下,快速发现时序问题并解决时序问题。
搜索关键词: 集成电路 多情 时序 收敛 分析 方法 装置 介质 设备
【主权项】:
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