[发明专利]一种放大型面阵扫频测量装置和方法在审

专利信息
申请号: 202011518489.3 申请日: 2020-12-21
公开(公告)号: CN112684462A 公开(公告)日: 2021-04-20
发明(设计)人: 殷晓君;雷力;于龙;谢谊;李志标 申请(专利权)人: 武汉光目科技有限公司
主分类号: G01S17/08 分类号: G01S17/08;G01S7/481;G01B11/06
代理公司: 武汉华之喻知识产权代理有限公司 42267 代理人: 李君;李欢
地址: 430075 湖北省武汉市东湖高新*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供了一种放大型面阵扫频测量装置和方法,属于激光测距技术领域,装置包括可调谐激光器、第一准直器、第一扩束器、第一分束器、镜头、反射元件、相机和采集控制单元;可调谐激光器用于通过发送触发信号,控制相机采集干涉图像,并提供原始光束;第一分束器用于将经准直和扩束后的光束分为第一光束和第二光束,第一光束照射待测被测物体后反射;反射元件用于将第二光束反射形成参考光;镜头用于使干涉图像成像在相机上;相机用于采集第一反射光和参考光干涉形成的干涉图像。本发明取代了传统的点探测采集方式获取表面形貌,避免了点探测时引入的机械扫描误差,提升了大视场下面阵扫频测量数据的准确度。
搜索关键词: 一种 大型 面阵扫频 测量 装置 方法
【主权项】:
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