[发明专利]一种运算性能测试方法、装置、电子设备及存储介质在审
申请号: | 202011519067.8 | 申请日: | 2020-12-21 |
公开(公告)号: | CN112486795A | 公开(公告)日: | 2021-03-12 |
发明(设计)人: | 闫亚闯 | 申请(专利权)人: | 北京安兔兔科技有限公司 |
主分类号: | G06F11/34 | 分类号: | G06F11/34 |
代理公司: | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人: | 丁芸;赵元 |
地址: | 100041 北京市石景山区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明实施例提供了一种运算性能测试方法、装置、电子设备及存储介质,通过生成随机整数,判定所生成的随机整数是否为质数,统计预设时长内判定为质数的随机整数总数量,基于该总数量,确定运算性能测试结果。经过对随机生成的整数进行判定,统计出预设时长内判定为质数的随机整数总数量,能够测试出电子设备对整数数据类型的识别能力,即一段时长内能够判定出多少个质数,从而实现了对电子设备在数学运算方面的性能测试。 | ||
搜索关键词: | 一种 运算 性能 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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