[发明专利]一种基于视觉与深度学习的芯片管壳检测装置有效
| 申请号： | 202011519959.8 | 申请日： | 2020-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN112691938B | 公开（公告）日： | 2022-12-20 |
| 发明（设计）人： | 谢天;孙海峰;王卫军;王兆广;张允 | 申请（专利权）人： | 上海微电机研究所（中国电子科技集团公司第二十一研究所） |
| 主分类号： | B07C5/34 | 分类号： | B07C5/34;B07C5/02;B07C5/38 |
| 代理公司： | 北京五洲洋和知识产权代理事务所(普通合伙) 11387 | 代理人： | 刘春成 |
| 地址： | 200233*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种基于视觉与深度学习的芯片管壳缺陷检测装置。该装置包括：管壳上下料系统，用于将来料上料区的待检测芯片管壳移动至管壳检测区域，以及将缺陷检测完毕的芯片管壳移动至下料区；管壳缺陷视觉系统，基于CCD视觉检测技术对管壳检测区域的待检测芯片管壳进行图像采集并发送；管壳缺陷信息化控制系统，与管壳缺陷视觉系统通讯连接，接收管壳缺陷视觉系统发送的待检测芯片管壳的图像，并根据待检测芯片管壳的图像，对待检测芯片管壳的外观缺陷进行检测。通过该装置对待检测芯片管壳的外观缺陷进行检测，找到芯片管壳的缺陷位置，有效提高芯片管壳的检测效率以及准确率，实现芯片管壳缺陷检测的高速、高精度、自动化检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 视觉 深度 学习 芯片 管壳 检测 装置 | ||
【主权项】：
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