[发明专利]锁相环参考杂散快速仿真方法在审
| 申请号： | 202011524690.2 | 申请日： | 2020-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN112636747A | 公开（公告）日： | 2021-04-09 |
| 发明（设计）人： | 陈磊;岑远军;杨金达 | 申请（专利权）人： | 成都华微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | H03L7/08 | 分类号： | H03L7/08;H03L7/18 |
| 代理公司： | 成都惠迪专利事务所(普通合伙) 51215 | 代理人： | 刘勋 |
| 地址： | 610000 四川省成都市*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： |
锁相环参考杂散快速仿真方法，涉及集成电路技术。本发明包括下述步骤：1）采集锁相环信号，所述锁相环包括鉴频鉴相器、电荷泵、环路滤波器、压控振荡器和分频器；2）计算杂散抑制比；所述步骤1）中，锁相环信号包括包括环路滤波器输出的直流调谐电压频谱信号，所述步骤2）中，采用下式计算杂散抑制比X：X= |
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| 搜索关键词： | 锁相环 参考 快速 仿真 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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