[发明专利]形成EUVL防尘薄膜的方法在审
申请号: | 202011525399.7 | 申请日: | 2020-12-22 |
公开(公告)号: | CN113093471A | 公开(公告)日: | 2021-07-09 |
发明(设计)人: | M·蒂默曼斯;C·惠耿巴尔特;I·波兰迪亚;E·查普曼斯;E·加拉赫 | 申请(专利权)人: | IMEC非营利协会 |
主分类号: | G03F1/62 | 分类号: | G03F1/62 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 王颖;蔡文清 |
地址: | 比利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 根据本发明概念的一个方面,提供一种用于形成EUVL防尘薄膜的方法,该方法包括:对碳纳米管(CNT)膜片进行涂覆;以及将CNT膜片安装到防尘薄膜框架上,其中,对CNT膜片进行涂覆包括:用种子材料对膜片的CNT进行预涂覆;以及在预涂覆的CNT上形成外涂层,外涂层覆盖了预涂覆的CNT,外涂层的形成包括:通过原子层沉积使得涂料材料沉积在预涂覆的CNT上。 | ||
搜索关键词: | 形成 euvl 防尘 薄膜 方法 | ||
【主权项】:
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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