[发明专利]一种射频终端性能测试方法有效
| 申请号： | 202011531733.X | 申请日： | 2020-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN112763821B | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 张华;许陪堃 | 申请（专利权）人： | 福建新大陆支付技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;H04B17/318 |
| 代理公司： | 厦门原创专利事务所(普通合伙) 35101 | 代理人： | 龚杰奇 |
| 地址： | 350015 福建省福州市*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明公开一种简易高效的射频终端性能测试方法，其包括如下步骤：搭建灵敏度测试环境后进行灵敏度测试；进行射频场信号强度测试；进行TypeA和TypeB调制信号波形测试。本发明降低RFID电气性能测试设备的投入成本，减少了EMVCo Contactless L1电气测试的时间投入，解决了现有检测机构的测试成本昂贵，标准测试设备昂贵，中小型公司，缺少条件购买标准测试设备，需要花费大量时间在检测机构进行测试验证的问题，有效节省了产品测试的时间和开发成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射频 终端 性能 测试 方法 | ||
【主权项】：
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