[发明专利]用于集成电路设计验证的方法、装置、设备以及存储介质有效
申请号: | 202011532364.6 | 申请日: | 2020-12-23 |
公开(公告)号: | CN112580282B | 公开(公告)日: | 2023-04-07 |
发明(设计)人: | 鄢传钦;王斌;张剑峰;陈俊 | 申请(专利权)人: | 海光信息技术股份有限公司 |
主分类号: | G06F30/33 | 分类号: | G06F30/33 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 彭久云 |
地址: | 300392 天津市华苑产业区*** | 国省代码: | 天津;12 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种用于集成电路设计验证的方法、装置、设备以及存储介质。用于集成电路设计验证的方法包括:获取寄存器传输级文件中的第一功能点,寄存器传输级文件定义的功能集合包括第一功能点和至少一个第二功能点,第一功能点为需要验证的功能点,至少一个第二功能点为不需要验证的功能点;对第一功能点进行错误注入验证。该用于集成电路设计验证的方法可以节省整个错误注入验证的时间。 | ||
搜索关键词: | 用于 集成电路设计 验证 方法 装置 设备 以及 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于海光信息技术股份有限公司,未经海光信息技术股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202011532364.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:任务测试方法、装置、设备及存储介质
- 下一篇:一种针对电力数据指纹的评估方法