[发明专利]用于集成电路设计验证的方法、装置、设备以及存储介质有效

专利信息
申请号: 202011532364.6 申请日: 2020-12-23
公开(公告)号: CN112580282B 公开(公告)日: 2023-04-07
发明(设计)人: 鄢传钦;王斌;张剑峰;陈俊 申请(专利权)人: 海光信息技术股份有限公司
主分类号: G06F30/33 分类号: G06F30/33
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 彭久云
地址: 300392 天津市华苑产业区*** 国省代码: 天津;12
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种用于集成电路设计验证的方法、装置、设备以及存储介质。用于集成电路设计验证的方法包括:获取寄存器传输级文件中的第一功能点,寄存器传输级文件定义的功能集合包括第一功能点和至少一个第二功能点,第一功能点为需要验证的功能点,至少一个第二功能点为不需要验证的功能点;对第一功能点进行错误注入验证。该用于集成电路设计验证的方法可以节省整个错误注入验证的时间。
搜索关键词: 用于 集成电路设计 验证 方法 装置 设备 以及 存储 介质
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于海光信息技术股份有限公司,未经海光信息技术股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202011532364.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top