[发明专利]一种基于迭代离散小波背景扣除的痕量元素XRF测定方法有效
| 申请号： | 202011534473.1 | 申请日： | 2020-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN112748140B | 公开（公告）日： | 2022-05-03 |
| 发明（设计）人： | 李福生;马骞;程惠珠;赵彦春;杨婉琪;何星华 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G06K9/00 |
| 代理公司： | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人： | 吴姗霖 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： |
本发明公开了一种基于迭代离散小波背景扣除的痕量元素XRF测定方法，将待测样品的原始检测谱线信号做L层一维离散小波分解，得到每层的一次低频逼近系数，选择最优分解层及对应的一次低频逼近系数a |
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| 搜索关键词： | 一种 基于 离散 背景 扣除 痕量 元素 xrf 测定 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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