[发明专利]一种产品反光表面缺陷检测方法及系统在审
| 申请号： | 202011536436.4 | 申请日： | 2020-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN112782179A | 公开（公告）日： | 2021-05-11 |
| 发明（设计）人： | 刘磊;岳峰;李彬 | 申请（专利权）人： | 北京市新技术应用研究所 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京真致博文知识产权代理事务所(普通合伙) 11720 | 代理人： | 苏畅 |
| 地址： | 100035 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种产品反光表面缺陷检测方法，包括：获取待检测产品反光表面条纹图像及白色反光图像；获取待检测产品的感兴趣区域；获取感兴趣区域的基准点；条纹图像形态学滤波处理；图像二值化处理；基于模板图像的图像边缘形态学处理；缺陷检测。本发明还提供一种产品反光表面缺陷检测系统，包括：显示器、工业相机、图像处理设备、机械传动设备、产品固定夹具。本发明充分考虑产品表面图像检测面积和检测点数量各异、待检测区域反光且带有弧度等情况，利用白色反光图像信息分别获得待检测图像ROI的轮廓及轮廓内图像以及ROI的基准点，获取去除条纹干扰且缺陷能够很好保留的图像，实现待检测产品反光面中每个ROI缺陷的快速、精确、稳定的检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 产品 反光 表面 缺陷 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
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