[发明专利]一种计入光子损失的玻色采样仿真方法、系统及介质有效
| 申请号： | 202011539865.7 | 申请日： | 2020-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN112560280B | 公开（公告）日： | 2022-10-18 |
| 发明（设计）人： | 季阳;黄汛;叶永金;吴永政 | 申请（专利权）人： | 华东计算技术研究所（中国电子科技集团公司第三十二研究所） |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G06N10/20;G06F111/08 |
| 代理公司： | 上海段和段律师事务所 31334 | 代理人： | 李佳俊;郭国中 |
| 地址： | 201800 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种计入光子损失的玻色采样仿真方法、系统及介质，涉及量子通信技术领域，该方法包括：等效光学网络构造方法：产生对应计入光子损失的光学网络的等效幺正矩阵；输出模式概率分布求解方法：通过计算所述等效幺正矩阵的子矩阵积和式，产生计入光子损失的玻色采样输出模式概率分布仿真结果。本发明能够得到计入光子损失的玻色采样输出模式概率分布。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 计入 光子 损失 采样 仿真 方法 系统 介质 | ||
【主权项】：
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