[发明专利]具有低门槛电压的SiC绝缘栅双极晶体管及其制造方法在审
申请号: | 202011540200.8 | 申请日: | 2020-12-23 |
公开(公告)号: | CN112670338A | 公开(公告)日: | 2021-04-16 |
发明(设计)人: | 王曦;董青杨;蒲红斌;胡继超;解勇涛;孙天博 | 申请(专利权)人: | 西安理工大学 |
主分类号: | H01L29/739 | 分类号: | H01L29/739;H01L29/06;H01L29/08;H01L29/16;H01L21/331 |
代理公司: | 西安弘理专利事务所 61214 | 代理人: | 戴媛 |
地址: | 710048 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种具有低门槛电压的SiC绝缘栅双极晶体管,包括第一外延层,第一外延层之下依次设置有第二、第三、第四外延层;第四外延层的凸台之间设置有集电区;第四外延层及集电区下表面共同设置有集电极PAD;第一外延层上部的平台周围套装有阱区,该阱区上套装有源区,阱区和源区周围设置有重掺杂区;第一外延层、阱区以及源区部分上表面共同设置有栅氧化层;栅氧化层上表面覆盖有多晶硅栅;多晶硅栅及栅氧化层共同覆盖有场氧;重掺杂区、源区部分、场氧上表面及侧壁共同覆盖有发射极PAD。本发明还公开了该具有低门槛电压的SiC绝缘栅双极晶体管的制造方法。本发明的器件,降低了SiC IGBT的门槛电压。 | ||
搜索关键词: | 具有 门槛 电压 sic 绝缘 双极晶体管 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
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