[发明专利]低电阻率P型4H-SiC单晶及制备方法在审

专利信息
申请号: 202011548190.2 申请日: 2020-12-23
公开(公告)号: CN112725894A 公开(公告)日: 2021-04-30
发明(设计)人: 陈秀芳;仲光磊;谢雪健;杨祥龙;彭燕;胡小波;徐现刚 申请(专利权)人: 山东大学
主分类号: C30B29/36 分类号: C30B29/36;C30B23/00
代理公司: 山东宏康知识产权代理有限公司 37322 代理人: 宫秀秀
地址: 250199 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 本申请提供了一种低电阻率P型4H‑SiC单晶及制备方法,采用碳化硅生长仿真软件,对物理气相传输法生长晶体的过程模拟,获取将不可监测的坩埚内各点温度、物质输运流线、剩料形状及结晶度等,根据SiC单晶的生长过程中在各预设时间节点的物质传输路径及SiC粉料状态图、坩埚内的温场图,获得模型中的温场、热扩散、物质传输和表面动力学。然后,将模拟的结果进行分析,选择的生长温度和生长压力、Al源释放器在坩埚中的放置位置,并利用PVT单晶生长炉对p型4H‑SiC单晶进行实际生长,进而可以提高掺杂均匀性,获得质量良好的P型4H‑SiC单晶。
搜索关键词: 电阻率 sic 制备 方法
【主权项】:
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