[发明专利]一种Si衬底的GaN薄膜及制备方法在审

专利信息
申请号: 202011548786.2 申请日: 2020-12-24
公开(公告)号: CN112563379A 公开(公告)日: 2021-03-26
发明(设计)人: 高芳亮;杨金铭 申请(专利权)人: 深圳市昂德环球科技有限公司;惠州市三航无人机技术研究院
主分类号: H01L33/32 分类号: H01L33/32;H01L33/12;H01L33/00
代理公司: 深圳市精英专利事务所 44242 代理人: 武志峰
地址: 518000 广东省深圳市南山区粤海街道高新区*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种Si衬底的GaN薄膜及制备方法,所述Si衬底的GaN薄膜包括:生长在Si衬底上的基础AlN层、生长在所述基础AlN层上的第一AlGaN层、生长在所述第一AlGaN层上的SixNy层、生长在所述SixNy层上的第二AlGaN层、生长在所述第二AlGaN层上的低温GaN层、生长在所述低温GaN层上的高温GaN层。本发明实施例在缓冲层结构中插入SixNy层,有利于缓解外延层生长过程中产生的应力,并且该层能够有效的钉扎位错,最终能够有效缓解薄膜中缺陷密度,从而实现高晶体质量GaN薄膜生长;本发明使用Si作为衬底,衬底容易获得,有利于降低生产成本。
搜索关键词: 一种 si 衬底 gan 薄膜 制备 方法
【主权项】:
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