[发明专利]一种配件合格率的预测方法、装置、设备及存储介质

摘要

本发明实施例公开了一种配件合格率的预测方法、装置、设备及存储介质。其中，该方法包括：根据待预测样本的历史合格率，以及输入层节点与隐含层节点之间的第一连接权值，和隐含层节点的第一阈值，确定隐含层节点的输入数据；根据所述隐含层节点的输入数据和预设隐含层计算公式，确定隐含层节点的输出数据；根据所述隐含层节点的输出数据，以及隐含层节点与输出层节点之间的第二连接权值和第二阈值，确定输出层节点的输入数据；根据所述输出层节点的输入数据和预设输出层计算公式，确定配件合格率的预测结果。实现对配件合格率的预测，减少人工计算过程，提高预测效率和精度。