[发明专利]硅光芯片背入射光栅耦合结构及其制作方法在审

专利信息
申请号: 202011557294.X 申请日: 2020-12-24
公开(公告)号: CN112630901A 公开(公告)日: 2021-04-09
发明(设计)人: 孙瑜;曹立强;刘丰满;隗娟 申请(专利权)人: 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司
主分类号: G02B6/42 分类号: G02B6/42
代理公司: 上海智晟知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31313 代理人: 张东梅
地址: 214028 江苏省无锡市新区*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供了一种硅光芯片背入射光栅耦合结构及其制作方法,包括:制作基板,所述基板包括底层基板层、中间基板层及顶层基板层;在顶层基板层上形成光通路结构层,所述光通路结构层具有光栅结构;在光通路结构层上形成介质层;在介质层上形成金属层,其包括与光栅结构位置相匹配的反射部件;在金属层上形成载片;在底层基板层中与反射部件相匹配的位置刻蚀形成光纤容置腔室;去除载片;将光学部件固定于光学部件容置腔室中。
搜索关键词: 芯片 入射 光栅 耦合 结构 及其 制作方法
【主权项】:
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