[发明专利]基于小波变换的产品表面缺陷检测方法、存储器和处理器有效
| 申请号： | 202011559294.3 | 申请日： | 2020-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN112288745B | 公开（公告）日： | 2021-04-02 |
| 发明（设计）人： | 吴巍;刘亮;王建刚 | 申请（专利权）人： | 武汉华工激光工程有限责任公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T5/20;G01N21/88 |
| 代理公司： | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人： | 徐瑛 |
| 地址： | 430223 湖北省武汉市*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开一种基于小波变换的产品表面缺陷检测方法、存储器和处理器，本发明首先读取产品的原始图像，然后输入小波核尺寸和小波方向，利用小波变换计算生成小波核，再利用小波核和产品的原始图像进行卷积运算得到滤波图像，实现自适应滤除复杂的图像背景，凸显缺陷区域；对于不同类型的缺陷，可输入不同尺寸的小波核及小波方向来进行缺陷检测，实现一种方法检测不同类型缺陷的目的，无需针对某类或某几类缺陷分别开发图像处理算法，极大降低了开发成本。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 变换 产品 表面 缺陷 检测 方法 存储器 处理器 | ||
【主权项】：
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