[发明专利]集成电路、半导体结构及形成沟槽电容器的方法在审

专利信息
申请号: 202011563976.1 申请日: 2020-12-25
公开(公告)号: CN113053877A 公开(公告)日: 2021-06-29
发明(设计)人: 郑新立;林均颖;亚历山大卡尔尼斯基;黄士芬;苏淑慧;许庭祯;简铎欣;徐英杰;吴细闵;张聿骐 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L27/08 分类号: H01L27/08;H01L21/822;H01L27/108;H01L21/8242
代理公司: 南京正联知识产权代理有限公司 32243 代理人: 王素琴
地址: 中国台湾新竹科*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 本公开的各种实施例涉及一种包含邻接沟槽电容器的柱结构的集成电路(IC)。衬底具有定义沟槽的多个侧壁。沟槽延伸到衬底的前侧表面中。沟槽电容器包含多个电容器电极层和多个电容器介电层,多个电容器电极层和多个电容器介电层分别衬于沟槽且定义衬底内的空腔。柱结构设置于衬底内。柱结构具有第一宽度和小于第一宽度的第二宽度。第一宽度与衬底的前侧表面对准,且第二宽度与设置在前侧表面之下的第一点对准。
搜索关键词: 集成电路 半导体 结构 形成 沟槽 电容器 方法
【主权项】:
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