[发明专利]可实现高低温瞬间变化的温度冲击试验箱在审
| 申请号： | 202011570918.1 | 申请日： | 2020-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN112595659A | 公开（公告）日： | 2021-04-02 |
| 发明（设计）人： | 万峰;申屠献忠;董宁;白洪海;戴煦 | 申请（专利权）人： | 上海华测品标检测技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N17/00 | 分类号： | G01N17/00;G01N25/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201206 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种可实现高低温瞬间变化的温度冲击试验箱，包括：箱体，所述箱体包括侧箱体及试验箱，所述侧箱体设于所述试验箱一侧壁处，且所述侧箱体与所述试验箱之间设有气流循环通道；温度冲击试验装置，所述温度冲击试验装置包括样品固定装置、高温冲击装置及低温冲击装置，且所述高温冲击装置及低温冲击装置可对放置在所述样品固定装置上的样品进行高温冲击或者低温冲击。本发明是一种极大地缩短测试时间、降低测试能耗的可实现高低温瞬间变化的温度冲击试验箱。 | ||
| 搜索关键词： | 实现 低温 瞬间 变化 温度 冲击 试验 | ||
【主权项】：
暂无信息
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