[发明专利]一种成像光谱仪波段PRNU特性校正方法、系统及设备有效

专利信息
申请号: 202011579921.X 申请日: 2020-12-28
公开(公告)号: CN112729546B 公开(公告)日: 2022-10-28
发明(设计)人: 常振;赵欣;王煜;司福祺 申请(专利权)人: 中国科学院合肥物质科学研究院
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28
代理公司: 合肥天明专利事务所(普通合伙) 34115 代理人: 苗娟
地址: 230031 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明的一种成像光谱仪波段PRNU校正方法、系统及设备,针对现有方法要么无法进行谱段相关的PRNU校正、要么无法获取理想校正光源的问题,本发明通过计算光源高斯光束光强分布参数,获取成像光斑光强二维分布模型,并将其作为校正光源进行PRNU校正,提升了光源的精确性、避免了光源引入的校正误差,提升PRNU校正的可靠性;发明中针对成像光谱仪的光谱偏移现象,设计了与之匹配的校正方法,可提升PRNU校正的准确性。
搜索关键词: 一种 成像 光谱仪 波段 prnu 特性 校正 方法 系统 设备
【主权项】:
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