[发明专利]一种ICT测试平台的校验方法及系统在审
| 申请号： | 202011583084.8 | 申请日： | 2020-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN112782634A | 公开（公告）日： | 2021-05-11 |
| 发明（设计）人： | 陈占旭 | 申请（专利权）人： | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京众达德权知识产权代理有限公司 11570 | 代理人： | 徐彦圣 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种ICT测试平台的校验方法及系统，该方法包括：提供针点验证板，在所述针点验证板表面形成多个图形；所述多个图形的形状大小及位置与PCB上的多个焊盘的形状大小及位置分别对应；通过夹具夹持固定所述针点验证板；将设置有多个探针的测试平台与所述针点验证板对齐，控制所述多个探针抵靠所述针点验证板，在所述针点验证板上形成多个针印，再根据所述多个针印的位置，对所述测试平台上的探针位置进行校验；所述多个图形包含有多个类别的图形，不同类别图形的大小及颜色不同。本发明可以对ICI测试平台上的探针位置进行校验，避免划伤PCB，造成PCB的浪费。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ict 测试 平台 校验 方法 系统 | ||
【主权项】：
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