[发明专利]一种用于超高基频晶体振荡器的老化性能测试夹具在审
| 申请号： | 202011588025.X | 申请日： | 2020-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN112798825A | 公开（公告）日： | 2021-05-14 |
| 发明（设计）人： | 王莉;李国强;郑文强;王巍丹;牛磊;段友峰;崔巍 | 申请（专利权）人： | 北京无线电计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/00;G01R31/26 |
| 代理公司： | 中国航天科工集团公司专利中心 11024 | 代理人： | 张国虹 |
| 地址： | 100854 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于超高基频晶体振荡器的老化性能测试夹具，包括：信号处理通用电路板、位于所述信号处理通用电路板上的输入转接插座和位于所述信号处理通用电路板底部的输出转接插针。本发明可通过对频率信号进行分频降频处理实现对超高基频晶体振荡器精确的老化性能测试，解决现有测试方法较难实现输出频率超过150MHz甚至达GHz的晶体振荡器产品的老化性能测试难题，同时具有产品适配性好、应用范围广、测试精度及测试效率高等特点和优势。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 超高 基频 晶体振荡器 老化 性能 测试 夹具 | ||
【主权项】：
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