[发明专利]一种多探针电容位移传感器和表面测量方法有效

专利信息
申请号: 202011588939.6 申请日: 2020-12-29
公开(公告)号: CN112577406B 公开(公告)日: 2021-11-19
发明(设计)人: 常素萍;吴运权;卢文龙;刘晓军;王浩 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G01B7/02 分类号: G01B7/02;G01B7/28;G01B11/02
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 李智
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种多探针电容位移传感器和表面测量方法,属于精密位移和表面测量相关技术领域。装置包括多探针测头、计量单元和直线直驱电机,多探针测头采用阵列式铰链结构支承阵列式探针,每个探针连接片上的铰链结构的导电膜,与上方的固定板上的导电膜构成电容位移计量单元,结合固定板上的激光干涉计量单元,则可以获得探针的位移。直线直驱电机驱动整个多探针测头,水平位移机构带动被测件进行二维位移,可以实现表面形貌的大量程多探针扫描测量。本发明装置结构简单,操作简单,测量精度和效率高。
搜索关键词: 一种 探针 电容 位移 传感器 表面 测量方法
【主权项】:
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