[发明专利]电子元器件外壳缺陷检测方法及系统在审
| 申请号： | 202011594022.7 | 申请日： | 2020-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN112730440A | 公开（公告）日： | 2021-04-30 |
| 发明（设计）人： | 吕宏峰;王小强;罗军;刘磊 | 申请（专利权）人： | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 郭凤杰 |
| 地址： | 511300 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及电子元器件检测技术领域，公开了一种电子元器件外壳缺陷检测方法及系统。所述方法包括将待测电子元器件移动至检测区域，获取所述电子元器件的第一表面图像信息；使所述电子元器件旋转预设角度，获取所述电子元器件的第二表面图像信息；根据所述第一表面图像信息和所述第二表面图像信息判断所述电子元器件是否存在表面缺陷。分别对电子元器件外壳上下表面是否存在表面缺陷进行判断。通过获取电子元器件的表面图像信息，同时在多重算法的协助下，对电子元器件表面是否存在缺陷进行判断，减少人为的参与程度和主观性，使检测更加客观，极大的提高了检测效率和精度，可以长时间连续工作，从而满足高强度任务需求。 | ||
| 搜索关键词： | 电子元器件 外壳 缺陷 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）），未经中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011594022.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
