[发明专利]一种计数方法以及计数装置在审
| 申请号： | 202011595854.0 | 申请日： | 2020-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN114692531A | 公开（公告）日： | 2022-07-01 |
| 发明（设计）人： | 郑凯旭 | 申请（专利权）人： | 华邦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/32 | 分类号： | G06F30/32;G06F30/31;G06F115/10 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 董骁毅;叶明川 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种计数方法及计数装置，适用于计数集成电路的阶层数。计数方法包括在图形使用者界面上点选集成电路的起始线段；判断起始线段是否为浮接；当判断起始线段耦接至第一装置时，将第一装置存储于装置寄存器；将阶层数加一作为与第一装置对应的第一阶层数；将除了起始线段以外的第一装置耦接的所有线段，存储于第一耦接寄存器；从第一耦接寄存器中选择第一线段；判断第一线段是否为浮接；以及当判断第一线段并非浮接时，将第一阶层数在图形使用者界面上显示于第一线段上。本发明提出的计数方法以及计数装置能够计数信号路径上所经过的阶层数，方便设计者得知具有最大延迟时间的路径，进而降低审视集成电路的时间，并大幅提升设计效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 计数 方法 以及 装置 | ||
【主权项】：
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