[发明专利]一种异质结紫外探测器及其制备方法有效

专利信息
申请号: 202011603004.0 申请日: 2020-12-29
公开(公告)号: CN112563353B 公开(公告)日: 2023-01-03
发明(设计)人: 刘可为;张超;陈星;申德振;李炳辉;艾秋;张振中 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: H01L31/0336 分类号: H01L31/0336;H01L31/109;H01L31/20
代理公司: 长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙) 22218 代理人: 高一明;郭婷
地址: 130033 吉林省长春*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明提供一种异质结紫外探测器,包括:衬底、制备于衬底上的ZnO薄膜层、制备于ZnO薄膜层上的非晶Ga2O3薄膜层以及分别制备于非晶Ga2O3层和ZnO薄膜层上的接触电极;ZnO薄膜层与非晶Ga2O3薄膜层接触面形成ZnO/非晶Ga2O3异质结;所述ZnO薄膜层的厚度为50~200nm;所述非晶Ga2O3薄膜层的厚度为100~300nm。本发明制得的异质结紫外探测器,低温生长可以改善异质结界面缺陷所带来的性能不理想问题,具备良好的载流子调控特性、响应度和稳定性,并具有自供能特性,表现出出色的紫外探测性能。整个薄膜型异质结器件制造工艺简单,所用材料容易获得,具有广阔的发展前景。
搜索关键词: 一种 异质结 紫外 探测器 及其 制备 方法
【主权项】:
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