[发明专利]验证方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质在审
| 申请号： | 202011605756.0 | 申请日： | 2020-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN112613257A | 公开（公告）日： | 2021-04-06 |
| 发明（设计）人： | 刘静;高红莉;徐栋磊 | 申请（专利权）人： | 海光信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/33 | 分类号： | G06F30/33 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 彭久云 |
| 地址： | 300392 天津市华苑产业区*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 一种用于集成电路设计的验证方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质。该验证方法包括：获取第一覆盖率报告，第一覆盖率报告包括对集成电路设计的多个功能模块进行验证而得到的覆盖率信息；基于第一覆盖率报告，确定多个功能模块中每个功能模块的覆盖率子信息；以及根据每个功能模块的覆盖率子信息，生成每个功能模块各自的第二覆盖率报告。该验证方法可以对第一覆盖率报告中的覆盖率信息进行整理得到每个功能模块各自的第二覆盖率报告，从而各个功能模块的验证人员可以分别对功能模块的第二覆盖率报告进行进一步的分析，进而提高覆盖率分析的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 验证 方法 装置 电子设备 计算机 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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