[发明专利]具有在光电二极管层上印制的驱动微集成芯片的X射线检测器在审

专利信息
申请号: 202011609021.5 申请日: 2020-12-30
公开(公告)号: CN113130524A 公开(公告)日: 2021-07-16
发明(设计)人: 尹丞万;李昊锡;郑镇雄 申请(专利权)人: 韩国睿恩斯有限公司;以友技术有限公司;Qpix解决方案股份有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146;G01T1/16;G01T1/161;G01T1/20;G01T1/24
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 李芳华
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 提供了一种X射线检测器以及用于制造该X射线检测器的方法,X射线检测器包括与光电二极管层分开制造并印刷在光电二极管层上的多个像素驱动微集成芯片。X射线检测器可以包括光电二极管层和驱动层。光电二极管层可以包括多个光电二极管并且被配置为接收已经穿过目标对象的X射线并将接收到的X射线转换成电信号。驱动层可以在光电二极管层上形成并且包括多个微驱动集成芯片,每个微驱动集成芯片耦合到光电二极管层中的两个或更多个光电二极管。可以与光电二极管层分开制造多个像素驱动集成芯片并且使用微转移印刷方法将其印刷在光电二极管层上。
搜索关键词: 具有 光电二极管 印制 驱动 集成 芯片 射线 检测器
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于韩国睿恩斯有限公司;以友技术有限公司;Qpix解决方案股份有限公司,未经韩国睿恩斯有限公司;以友技术有限公司;Qpix解决方案股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202011609021.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top