[发明专利]一种用于CMOS芯片检测的多方位视觉检测机构在审
| 申请号： | 202011619297.1 | 申请日： | 2020-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN112730461A | 公开（公告）日： | 2021-04-30 |
| 发明（设计）人： | 张华;蒲继雄;丁攀峰;冯文灿 | 申请（专利权）人： | 东莞广达智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/956 | 分类号： | G01N21/956;G01N21/01;G01B11/27;G01B11/06;G01B5/24;G01B5/06 |
| 代理公司： | 北京卓恒知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11394 | 代理人： | 李迪 |
| 地址： | 523000 广东省东莞市松山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及检测设备技术领域，尤其是指一种多方位视觉检测设备，包括高度检测仪、偏心检测仪、机台，所述高度检测仪安装于所述机台上，所述偏心检测仪安装于所述高度检测仪下方，所述高度检测仪能够检测工件的高度，所述偏心检测仪能够检测工件是否偏心；所述机台设置有与所述高度检测仪配合使用的检测台，所述检测台上端设置有可转动的夹具，所述高度检测仪安装于所述检测台旁；所述检测台设置有与所述高度检测仪配合使用的反射镜，所述机台设置有承载板，所述承载板下方设置有环形光源，所述环形光源上端设置有折射器，通过折射器和反射镜的存在使本发明，在对工件进行照射时，能够减少曝光几率，使高度检测仪能够正常对焦进行检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 cmos 芯片 检测 多方位 视觉 机构 | ||
【主权项】：
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