[发明专利]校准激光扫平仪的方法和系统有效
| 申请号： | 202011622102.9 | 申请日： | 2020-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN112611395B | 公开（公告）日： | 2022-07-08 |
| 发明（设计）人： | 王伟臣;石昕;邢星 | 申请（专利权）人： | 美国西北仪器公司;上海诺司纬光电仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00;G01C15/00 |
| 代理公司： | 北京永新同创知识产权代理有限公司 11376 | 代理人： | 杨胜军 |
| 地址： | 美国新泽*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开内容公开了校准激光扫平仪的方法和系统。所述方法包括：将激光扫平仪与探测器设置于同一水平面，使得激光扫平仪处于被探测位置；设置激光扫平仪处于打点模式或扇扫模式；在探测器探测到激光扫平仪发射的用于校准的激光射线时，探测器生成第一位置信息；在激光扫平仪旋转到第一旋转角度时，将激光扫平仪中的激光投射方向相对于激光扫平仪沿相反方向旋转第一旋转角度，使得探测器探测到激光扫平仪发射的用于校准的激光射线，以生成第二位置信息；以及基于第一位置信息和第二位置信息，确定是否需要对激光扫平仪进行校准。本公开内容使得激光扫平仪能够在扇扫模式或打点模式下利用探测器实现对其精度的检测和校准。 | ||
| 搜索关键词： | 校准 激光 扫平 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于美国西北仪器公司;上海诺司纬光电仪器有限公司，未经美国西北仪器公司;上海诺司纬光电仪器有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011622102.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
