[发明专利]电磁场耦合高深宽比刻蚀硅基方法在审
申请号: | 202011623254.0 | 申请日: | 2020-12-30 |
公开(公告)号: | CN112750687A | 公开(公告)日: | 2021-05-04 |
发明(设计)人: | 张俐楠;陆凯;刘红英;吴立群;王洪成 | 申请(专利权)人: | 杭州电子科技大学 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02 |
代理公司: | 浙江千克知识产权代理有限公司 33246 | 代理人: | 周希良 |
地址: | 310018 浙江省杭州市杭*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 电磁场耦合高深宽比刻蚀硅基方法,包括以下步骤:S1、在硅基上设置光刻胶模板作为硅基的掩膜,并在光刻胶模板上放置催化剂层,催化剂层由贵金属催化剂层和磁性层组成,贵金属催化剂层位于磁性层的上下两侧;S2、在硅基的下方放置电磁铁,电磁铁和磁性层位于硅基的相对两侧;S3、在硅基的上下两侧加设电极板,并通入直流电源;与现有技术相比,使得金属颗粒与硅基接触更加紧密,催化剂与硅基接触的有效面积增大,促使硅基内产生的空穴能够尽快地被溶解,避免晶格缺陷的产生,降低孔隙率,从而改进硅基圆柱孔壁的表面质量,避免在后续成形过程中产生过多的机械应力。 | ||
搜索关键词: | 电磁场 耦合 高深 刻蚀 方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造