[发明专利]一种β射线法大气颗粒浓度测量仪校准用标准质量膜片及其制作方法在审

专利信息
申请号: 202011630076.4 申请日: 2020-12-30
公开(公告)号: CN112577871A 公开(公告)日: 2021-03-30
发明(设计)人: 张彬 申请(专利权)人: 西安鼎研科技股份有限公司
主分类号: G01N15/06 分类号: G01N15/06
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 王艾华
地址: 710000 陕西省西安市*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种β射线法大气颗粒浓度测量仪校准用标准质量膜片及其制作方法,用第一空白滤膜在采样点进行采样,测量完成后计算ln(I0/I)的值以及第一空白滤膜截留颗粒物后的质量;用第二空白滤膜得到初始测定的β射线量I1;将光学聚酯薄膜设置在第二空白滤膜上;利用结构A得到测定的β射线量I2,计算ln(I1/I2)的值;利用ln(I0/I)的值和ln(I1/I2)的值判断所用的光学聚酯薄膜能否作为与第一空白滤膜采样后等效质量的校准用标准质量膜片;如果判断不能,对光学聚酯薄膜进行处理,直至所用的光学聚酯薄膜能够作为校准用标准质量膜片,将所用的光学聚酯薄膜取下。本发明能够在本地采用实验相结合,消除了使用其他标准膜片校准时,由于大气中颗粒物的成分状态不同而带来的误差。
搜索关键词: 一种 射线 大气 颗粒 浓度 测量仪 校准 标准 质量 膜片 及其 制作方法
【主权项】:
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