[发明专利]非易失性存储器的坏块修复方法、装置、存储介质和终端在审
| 申请号： | 202011632862.8 | 申请日： | 2020-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN112542203A | 公开（公告）日： | 2021-03-23 |
| 发明（设计）人： | 王文静 | 申请（专利权）人： | 深圳市芯天下技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/44 | 分类号： | G11C29/44;G11C29/00 |
| 代理公司： | 佛山市海融科创知识产权代理事务所(普通合伙) 44377 | 代理人： | 陈志超;唐敏珊 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙岗区横*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种非易失性存储器的坏块修复方法、装置、存储介质和终端，当Nor Flash开始擦除操作后，先验证待擦除的模块是否需要进行擦除，若验证不通过，则计数执行第一次擦除操作；当执行完擦除操作后，再次验证该模块是否擦除完成，若验证不通过，则再次计数执行第二次擦除操作；本方案通过持续累计执行擦除操作次数，当次数超过设定值后，系统将自动判断本次擦除操作失败，并将该块模块标记为坏块；同时，记录坏块地址，并用可替换块模块替换掉该坏块；结束本次擦除操作；当后续读写擦操作再次对该坏块地址进行操作时，芯片会自动摒弃该坏块，直接对替换的模块进行操作；通过本方案自动修复芯片产生的擦除问题，从而延长芯片寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 非易失性存储器 修复 方法 装置 存储 介质 终端 | ||
【主权项】：
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