[发明专利]芯片测试方法、装置、存储介质及设备在审
| 申请号： | 202011639911.0 | 申请日： | 2020-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN112782560A | 公开（公告）日： | 2021-05-11 |
| 发明（设计）人： | 吴义桂;何骁伟;杨国文;季宿儒;张清华 | 申请（专利权）人： | 海光信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 | 代理人： | 张仲波 |
| 地址： | 300000 天津市滨海新区天津华苑*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明一个或多个实施例公开了一种芯片测试方法、装置、存储介质及设备，该方法包括：根据待测试芯片获取第一测试文件，其中，所述第一测试文件为可执行文件；根据所述待测试芯片从预设的多个测试定义文件中选择目标测试定义文件，其中，所述测试定义文件中包括测试参数；获取所述目标测试定义文件；将所述第一测试文件与所述目标测试定义文件结合，得到第二测试文件；根据所述第二测试文件对所述待测试芯片进行测试，得到所述待测试芯片的测试结果，该方法可有效缩短芯片测试周期。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 方法 装置 存储 介质 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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