[实用新型]一种无痕测试装置有效
申请号: | 202020002534.9 | 申请日: | 2020-01-02 |
公开(公告)号: | CN211207973U | 公开(公告)日: | 2020-08-07 |
发明(设计)人: | 李虎;谭少鹏 | 申请(专利权)人: | 深圳市德明利技术股份有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
代理公司: | 深圳市道勤知酷知识产权代理事务所(普通合伙) 44439 | 代理人: | 何兵;饶盛添 |
地址: | 518000 广东省深圳市福田区梅林街道梅都社*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型揭示了一种无痕测试装置,包括:测试板、前板、后板、翻盖和支撑架;测试板包括圆头Pogo pin测试针、PCB板和USB插头;前板相对圆头Pogo pin测试针的部分设有第一通孔;前板和后板相对设置,且圆头Pogo pin测试针穿过第一通孔;前板和后板夹紧测试板,以将测试板固定于前板和后板之间,形成测试架基板;前板侧壁中部设有第二通孔;第一插销穿过第二通孔,以使翻盖固定于前板,形成测试架;翻盖一端具有插口,以插拔待测试的存储产品;前板设置有第一磁铁;翻盖内部的相对第一磁铁的部分设有第二磁铁,测试架的两端分别固定于两个相对设置的支撑架。与现有技术相比,本方案解决存储产品在测试时被测试针刮蹭,导致存储产品受损的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 测试 装置 | ||
【主权项】:
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