[实用新型]一种用于集成电路芯片的辐射测试系统有效
| 申请号： | 202020016714.2 | 申请日： | 2020-01-03 |
| 公开（公告）号： | CN211785935U | 公开（公告）日： | 2020-10-27 |
| 发明（设计）人： | 关凯博;张薇;刘刚 | 申请（专利权）人： | 北京锐达芯集成电路设计有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 | 代理人： | 蔡纯;张靖琳 |
| 地址： | 101111 北京市大兴区北京经济技*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于集成电路芯片的辐射测试系统，包括用于插接待测芯片的测试板、用于向待测芯片供电的电源以及PXI数据处理系统，其中测试板被布置在测试室中，且测试室内还布置有用于辐照待测芯片的辐照源；电源和PXI数据处理系被布置在控制室中；PXI数据处理系统包括数据采集卡、数字板卡和源测量单元板卡，数据采集卡用于采集待测芯片产生的测试数据；源测量单元板卡用于接收测试数据、对测试数据进行分析并获得分析结果；数字板卡用于接收测试数据和分析结果并进行存储。本实用新型提供的用于集成电路芯片的辐射测试系统，可以提高实验测试结果的准确性，避免出现错判或漏判问题，以及实现测试数据的存储和记录。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 集成电路 芯片 辐射 测试 系统 | ||
【主权项】：
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